ООО «Форком»
Компания Yokogawa Test & Measurement Corporation объявила о выпуске оптического рефлектометра высокого разрешения AQ7420. Используя технологию OLCR (оптической низкокогерентной рефлектометрии), рефлектометр Yokogawa AQ7420 идеально подходит для анализа внутренней структуры оптических модулей и визуализации микротрещин в оптических разъемах. Он обеспечивает пространственное разрешение 40 мкм и исключительную чувствительность измерения обратного отражения до -100 дБ или ниже без каких-либо побочных шумов. В сочетании с опциональным измерительным датчиком пользователи могут определить вносимые потери одновременно с обратным отражением, что делает AQ7420 высокоэффективным и экономичным рефлектометром для применения на рынке оптических приложений.
Предпосылки разработки
Компания Yokogawa Test & Measurement Corporation постоянно прислушивается к отзывам клиентов и тенденциям отрасли, разрабатывая инновации в соответствии с развитием рынка. Исследуя кремниевую фотонику и производство волоконно-оптических соединителей, компания столкнулась с рядом новых требований, которые не могли быть удовлетворены существующими на рынке решениями. К ним относятся: еще большее снижение паразитных шумов, одновременное измерение обратного отражения и вносимых потерь, повышенная стабильность измеряемых сигналов, сокращение времени измерения. Цель состояла в разработке решения, которое могло бы соответствовать этим требованиям, результатом чего стал новый рефлектометр высокого разрешения AQ7420. На текущий момент доступны две модели: с одной длиной волны (1310 нм) и с двумя длинами волн (1310 и 1550 нм). Также выпущено управляющее программное обеспечение для Windows 11, опциональные датчики для измерения потерь, различные мастер-коды (программные шаблоны, совместимые с различными типами разъемов) и код регулировки расстояния для настройки начального положения измерения.
Основные особенности
Главной из новых функций является способность AQ7420 снижать уровень побочных шумов. При использовании обычных устройств, основанных на технологии OLCR/OFDR, паразитный шум часто наблюдается в областях, где на самом деле нет отражения (фантомные отражения, зависящие от характеристик оборудования), что приводит к ошибочным оценкам. В таких ситуациях правильный анализ формы сигнала в значительной степени зависит от квалификации пользователей, обладающих специальными знаниями. В отличие от этого, новый рефлектометр AQ7420 оснащен технологией, которая значительно снижает уровень побочных шумов, и его отличительной чертой является простота анализа.
Еще одной примечательной особенностью является возможность одновременного измерения обратного отражения и вносимых потерь. Обычные приборы OLCR/OFDR часто не могут точно определить величину обратного отражения из-за низкой точности измерения по вертикальной оси (величины уровня отражения). Рефлектометр высокого разрешения AQ7420 устраняет эту проблему, позволяя проводить измерения с погрешностью ±3 дБ. Кроме того, используя преимущества опционального датчика, пользователи могут одновременно измерять вносимые потери с погрешностью ±0,02 дБ.
Важной особенностью является сокращение времени измерения. По сравнению с предыдущей моделью AQ7410, время измерения новым рефлектометром высокого разрешения AQ7420 сокращается примерно на 50%, на 6 секунд по сравнению с 12 секундами ранее.
