Цену уточняйте
Измерительные характеристики | ||||
Модель |
Yokogawa AQ6377E-10-L1-F | |||
Диапазон измерения длин волн |
1900...5500 нм |
|||
Диапазон развертки по длине волны | 1,0...3600 нм (полный диапазон), 0 нм | |||
Точность измерения длины волны |
± 0,5 нм (весь диапазон) |
|||
Установка разрешения по длине волны |
0,2, 0,5, 1, 2, 5 нм |
|||
Минимальное разрешение выборки | 0,01 нм | |||
Число точек выборки | 101...50001, AUTO | |||
Установка уровня чувствительности | NORM_HOLD, NORM_AUTO, NORMAL, MID, HIGH1, HIGH2 и HIGH3 (только высокий динамический режим /CHOP в HIGH1-3) | |||
Чувствительность по уровню мощности излучения |
-40 дБм (1900...2200 нм, чувствительность - HIGH3) -50 дБм (2200...2900 нм, чувствительность - HIGH3)
-60 дБм (2900...4500 нм, чувствительность - HIGH3) |
|||
Максимальная входная мощность | +13 дБм (на канал, весь диапазон длин волн) | |||
Максимальная безопасная входная мощность |
+20 дБм (полная входная мощность) | |||
Погрешность измерения мощности излучения |
± 2,0 дБ (2000 нм, при мощности -10 дБм, чувствительность: HIGH1, HIGH2, HIGH3, одномодовое волокно) |
|||
Динамический диапазон |
50 дБ (пик±5 нм, при разрешении 0,2 нм, чувствительность: HIGH1, HIGH2, HIGH3) |
|||
Применяемое волокно | SM, ММ (волокна с большим диаметром сердцевины до 400 мкм) | |||
Оптический разъем | FC (измерительный и калибровочный порты) | |||
Встроенный калибровочный источник излучения | Источник эталонной длины волны (для регулировки и калибровки по длине волны) | |||
Время развертки |
NORM_AUTO: 0.5 с, NORMAL: 1 с, МID: 2 с, HIGH1: 20 с |
|||
Время прогрева | Минимум 1 час |
Общие характеристики | ||||
Интерфейсы |
GP-IB; RS-232; Etheгnet; USB; VGA выход; Аналоговый выход; Триггерный вход; Триггерный выход. |
|||
Удаленное управление |
GP-IB; RS-232; Etheгnet(TCP/IP); Поддержка стандартов IEEE488.1 и IEEE488.2 |
|||
Вход/выход для продувки газом | Нейлоновая трубка, внешний диаметр 1/4 дюйма | |||
Сохранение |
Внутренняя память: 512 Мб, 64 трассы, 64 программы, 3 шаблонных линии Внешняя память: внешний накопитель с интерфейсом USB, формат FAT32 Формат файлов: CSV (текст), бинарный, ВМР, TIFF |
|||
Дисплей |
10,4 дюйма цветной LCD разрешение 800 х 600 точек |
|||
Размеры |
426х221х459 мм | |||
Вес | 23 кг | |||
Электропитание | 100 - 240 В, 50/60 Гц | |||
Условия эксплуатации и хранения |
идеальная температура для измерений: от +18 до +26 °С |
|||
Стандарт безопасности |
EN61010-1 |
|||
Стандарт безопасности лазера |
EN60825-1: 2014+A11: 2021, IEC 60825-1: 2007, GB 7247. 1-2012 Class 1 |
|||
EMC |
Излучение: EN61326-1 Class A, EN55011 Class A Group 1, EN61000-3-2, EN61000-3-3, RCM EN55011 Class A Group 1, Korea Electromagnetic Conformity Standart Защита: EN61326-1 Table 2 |
|||
Рекомендованный межповерочный период | 1 год |
Функции тестирования | ||
Измерения | Режим измерения | Измерение постоянного света (CW), измерения пульсирующего света, измерения по внешнему срабатыванию (триггера), селективные измерения (по внешнему сигналу), измерения длины волны в воздухе/вакууме |
Режим развертки | Единичная развертка, повторная развертка, автоматическая (AUTO) (автоматическая установка условий измерений), развертка между маркерами, регистрация данных по расписанию | |
Установки измерений | Средняя (центральная) длина волны, интервал (диапазон), кол-во точек выборки, разрешение длины волны, чувствительность измерений, режим большого динамического диапазона, количество выборок для усреднения (1 - 999), режим измерений с двойной скоростью, сглаживание | |
Другое | Выход состояния развертки, аналоговый выход | |
Экран дисплея | Вертикальная шкала | Шкала уровня (от 0,1 до 10 дБ/дел, линейная шкала), подшкала уровня (от 0,1 до 10 дБ/дел, линейная шкала), Отображение базового уровня, отображение сетки шкалы (8, 10, 12 делений), отображение процентов, отображение дБ/км, отображение удельной мощности спектра (дБ/нм), маска шума |
Горизонтальная шкала | Длина волны (nm), Частота (THz), Волновое число (cm−1), увеличение/уменьшение масштаба | |
Режимы экрана и отображения |
Обычный экран, Разделенный экран, отображение таблицы данных, отображение метки, отображение шаблона, отображение условий измерения |
|
Трассировки | Функции трассировок | Одновременное отображение до 7 независимых трассировок, отображение обнаруженного максимального/минимального значения, отображение вычислений между трассировками, нормализованное отображение, отображение подгонки кривой, отображение подгонки пиковой кривой, отображение подгонки кривой маркера, отображение скользящего среднего (усредненная развертка) (от 2 до 100 раз) |
Другое | Копирование/ стирание трассировки, установка фиксированного режима / режима записи, установка показать/скрыть для трассировок | |
Маркеры и поиск | Маркеры | Разность маркеров (максимум 1024 точек), вертикальные/горизонтальные линейные маркеры, расширенный маркер |
Поиск | Поиск пикового значения, поиск нижнего значения, автоматический поиск (ВКЛ/ВЫКЛ), поиск между линейными маркера горизонтальной оси, поиск в пределах области, показанной на экране | |
Анализ данных | Функции анализа | Анализ ширины спектра (пороговое значение, огибающая, среднеквадратичное значение(RMS), пиковое среднеквадратичное значение, провал в спектре), анализ спектрального уплотнения (WDM), анализ EDFA-NF (оптический усилитель на волокне), анализ пикового/нижнего значения фильтра, анализ пикового/нижнего значения фильтра WDM, анализ источников излучения типа DFB-LD, FP-LD, LED, анализ SMSR, анализ мощности, анализ дисперсии поляризационной моды (PMD), оценка Годен/Не годен по шаблону |
Другое | Установка автоматического анализа (ВКЛ/ВЫКЛ), анализ между линейными маркерами горизонтальной оси, анализ в пределах области, показанной на экране | |
Автоматизация измерений | Программирование измерений |
64 программы, 200 шагов на программ |
Дополнительные функции | Оптическая подстройка | Автоматическая юстировка с использованием встроенного источника излучения либо внешнего образцового источника излучения |
Калибровка длины волны |
Автоматическая калибровка длины волны с использованием встроенного источника излучения либо внешнего образцового источника излучения |
|