± 0,02 нм (1520...1620 нм)

± 0,04 нм (1450...1520 нм)

± 0,1 нм (весь диапазон)

± 0,01 нм (1520...1580 нм)

-90 дБм (1300...1620 нм)

-85 дБм (1000...1300 нм)

-60 дБм (600...1000 нм, чувствительность - HIGH3)

± 0,4 дБ (1310/1550 нм, при мощности -20 дБм, чувствительность: МID)

± 0,05 дБ (при входной мощности от -50 до +10 дБм)

Изменение чувствительности от длины
волны

± 0,1 дБ (от 1520 до 1580 нм), ± 0,2 дБ (от 1450 до 1520 нм, от 1580
до 1620 нм)

Максимальная безопасная входная
мощность

Чувствительность к поляризации
излучения

NORM_AUTO: 0.2 с, NORMAL: 1 с, МID: 2 с, HIGH1: 5 с, HIGH2: 20 с, HIGH3: 75 с

60 дБ (пик±0,2 нм)
46 дБ (пик ±0,1 нм)

73 дБ (пик±1,0 нм)
63 дБ (пик±0,4 нм)
52 дБ (пик±0,2 нм)

60 дБ (пик±0,4 нм)
46 дБ (пик±0,2 нм)

Уровень обратного отражения от входного
разъема

определение ширины спектральных полос;
тестирование оптических устройств - лазерные диоды, оптические лазеры, оптические усилители, оптические трансиверы;
тестирование пассивных оптических устройств: фильтры / FBG / AWG / WSS / ROADM / оптические волокна;
тестирование оборудования DWDM, CWDM;
спектральный анализ EDFA усилителей;
спектральный анализ оптических фильтров, спектральный анализ DFB-LD
анализ источников излучения;
спектральный анализ FP-LD источников излучения, спектральный анализ LED источников излучения;
анализ мощности излучения.

оптический вход

оптический выход встроенного источника излучения

Встроенный калибровочный источник

стандартный DFB C-band источник

GP-IB;
RS-232C;
Etheгnet;
USB;
VGA.

Размеры

идеальная температура для измерений: от +18 до +28 °С
рабочая температура: от 0 до +40 °С
влажность не более 80%